Знания с опорой на источники

ФРП «Математика», 5–9 классы, базовый уровень

Официальный PDF · Единое содержание общего образования

ФРП «Математика», 7–9 классы, углублённый уровень

Официальный PDF · Единое содержание общего образования

ФРП «Математика», 10–11 классы, базовый уровень

Официальный PDF · Единое содержание общего образования

ФРП «Математика», 10–11 классы, углублённый уровень

Официальный PDF · Единое содержание общего образования

Методическое письмо на 2026/27 учебный год

Преподавание математики и ссылки на действующий каталог программ

Разъяснение поправок к программам

Уточнение результатов углублённого курса 10–11 классов

ФИПИ-2026 · ОГЭ

Официальный тематический навигатор и ссылки в открытый банк

ФИПИ-2026 · ЕГЭ, базовый уровень

Официальный тематический навигатор и ссылки в открытый банк

ФИПИ-2026 · ЕГЭ, профильный уровень

Официальный тематический навигатор и ссылки в открытый банк

ФРП «Математика», базовый уровень, 5–9 классы, 2025; карта страниц и проверки — docs/CURRICULUM.md

ФРП «Математика», базовый уровень, 10–11 классы, 2025

ФРП «Математика», углублённый уровень, 10–11 классы, 2025

MIT 18.175 — Scott Sheffield: определения и условия теории вероятностей

NIST: Beta Distribution

NIST DLMF: неполные гамма- и бета-функции

MIT OCW: Mathematics for Computer Science, 2015 — логика, подсчёт и графы

NIST: Binomial Distribution — случай n = 1

MIT OCW 6.041: Probability Models, Random Variables, Limit Theorems — конспекты лекций

Marco Taboga, StatLect — асимптотическая теория: определения и условия

ФРП «Математика», углублённый уровень, 7–9 классы, 2025; уточнение уровня — в тексте статьи

NIST: Gamma Distribution

NIST DLMF: неполные гамма- и бета-функции

R stats: Geometric — источник считает неудачи; здесь X = Y + 1

R stats: Hypergeometric Distribution

NIST/SEMATECH: Scatter Plot — связь не доказывает причинность

MIT 6.041, лекция 5: дискретные величины и ожидание

NIST/SEMATECH: Measures of Scale — определения мер разброса

MIT 6.041, лекция 7: совместные величины, ожидание и независимость

NIST/SEMATECH e-Handbook — статистические процедуры и предпосылки

NIST/SEMATECH: Percentiles — разные методы вычисления квантилей

Marco Taboga, StatLect — определения совместных законов и моментов

MIT OpenCourseWare — случайные процессы: определения и условия

Marco Taboga, StatLect — определения совместных законов и моментов

NIST/SEMATECH e-Handbook — статистические процедуры и предпосылки

Marco Taboga, StatLect — статистическое оценивание

Marco Taboga, StatLect — определения совместных законов и моментов

MIT 6.041, лекция 8: непрерывные случайные величины

MIT 18.200: неравенства Маркова и Чебышёва, доказательства

MIT 6.041, лекция 19: неравенства и слабый закон больших чисел

NIST: Normal Distribution

MIT 18.175 — Scott Sheffield: определения и условия теории вероятностей

Marco Taboga, StatLect — преобразования и производящие функции

NIST/SEMATECH e-Handbook — статистические процедуры и предпосылки

Marco Taboga, StatLect — преобразования и производящие функции

MIT OpenCourseWare — случайные процессы: определения и условия

NIST Dataplot: Probability Distributions — discrete uniform

NIST: Uniform Distribution

NIST: Poisson Distribution

NIST: t Distribution и условия моментов

NIST: таблица критических значений Стьюдента

NIST: F Distribution

NIST: Chi-Square Distribution

Marco Taboga, StatLect — преобразования и производящие функции

Marco Taboga, StatLect — асимптотическая теория: определения и условия

MIT 18.175 — Scott Sheffield: определения и условия теории вероятностей

Marco Taboga, StatLect — определения совместных законов и моментов

MIT OpenCourseWare — случайные процессы: определения и условия

Marco Taboga, StatLect — определения совместных законов и моментов

Marco Taboga, StatLect — статистическое оценивание

MIT 18.175 — Scott Sheffield: определения и условия теории вероятностей

Marco Taboga, StatLect — преобразования и производящие функции

MIT 6.041, лекция 20: центральная предельная теорема

Marco Taboga, StatLect — асимптотическая теория: определения и условия

NIST: Exponential Distribution — масштаб β = 1/λ

NIST/SEMATECH: Box Plot — квартильный ящик и варианты усов